Basler ace 2 X SWIR and UV Cameras#
這些相機將視覺能力延伸至可見光譜之外，能夠偵測和檢測傳統相機無法看到的特徵。
ace 2 X SWIR cameras 在 0.4 至 1.7 µm 波長的可見光譜與短波紅外光譜中均能提供卓越的 image Quality。它們在穿透複雜結構或偵測隱藏物件等應用中表現出色。
ace 2 X UV cameras 可捕捉波長為 200 至 400 nm 的不可見紫外線光譜影像，讓您看見隱藏的事物。這帶來了許多獨特的應用，包括塑膠分類、晶圓表面檢測、太陽能電池檢測以及安全特徵檢測。
